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在半導體產業的精密制造鏈條中，晶圓檢測是保障芯片良率的關鍵環節。隨著芯片制程不斷向7nm及以下突破，對檢測技術的精度、效率提出了嚴苛要求。目前行業內主流的晶圓檢測技術——光學檢測、電子束檢測及原子力顯微鏡檢測，憑借各自技術原理，在不同檢測場景中發揮著重要的作用，共同構筑起晶圓質量的“防護網”。光學檢測技術以“光的傳播與交互”為核心原理，是晶圓檢測中應用廣泛的基礎技術。其本質是通過高分辨率光學系統向晶圓表面發射特定波長的光束，利用光的反射、折射、散射及干涉特性捕捉晶圓信息。當光...

在材料科學、化學、制藥、地質、新能源等前沿領域，深入理解物質的微觀晶體結構是推動研發、控制品質、發現新知的核心。粉末X射線衍射儀，正是開啟這扇微觀世界大門的金鑰匙。它通過分析材料對X射線的衍射圖譜，非破壞性地揭示物質的晶體結構、物相組成、結晶度、晶粒尺寸、應力狀態等關鍵信息，是科研與工業領域的精密分析工具。一、核心原理：一束X光，解開微觀世界的密碼當一束單色X射線照射到粉末樣品上時，樣品中無數隨機取向的微小晶體會在各個方向上產生衍射。通過探測和記錄這些衍射X射線的方向（角度）...

在半導體、材料科學等前沿領域的微觀表征中，高分辨X射線顯微鏡憑借其穿透性強、無損檢測的優勢，成為解析微觀結構的核心設備。空間分辨率、襯度靈敏度及成像視野作為衡量其性能的三大核心指標，直接決定檢測數據的精準度與應用價值。這些指標的表現并非孤立存在，而是受X射線源特性、光學系統設計、探測器性能等多重因素協同影響，深入理解其關聯機制是精準選型與高效應用的關鍵。空間分辨率作為表征設備“看清微觀細節”能力的核心，主要受X射線源波長與光學系統聚焦能力主導。根據衍射極限原理，X射線波長越短...

Lexsyg儀器助力解開西班牙千年古跡年代之謎！SantalladeBóveda建筑年代終揭曉【研究背景】西班牙盧戈省的SantalladeBóveda紀念碑因其神秘的羅馬風格壁畫與建筑結構，近百年來引發學界對其年代與功能的激烈爭論。近期，國際研究團隊通過lexsygresearch等端儀器，實現了對建筑灰燼與磚塊的解開測年，研究成果發表于國際有名期刊?！炯夹g突破】研究團隊創新性采用光釋光（OSL）、熱釋光（TL）與碳14測年技術聯用方案：1、通過lexsygresearch...

晶體結構決定材料的物理化學性能，D8X射線衍射儀作為核心分析設備，憑借“高分辨率衍射+多功能分析”優勢，精準測定晶體的物相組成、晶格參數、結晶度等關鍵信息，廣泛應用于材料研發、地質勘探、醫藥研發等領域，成為解碼晶體結構的工具。傳統X射線衍射儀存在分辨率低、掃描速度慢等問題，難以滿足復雜晶體結構的分析需求。D8X射線衍射儀采用“高精度測角儀+智能X射線光學系統”架構，實現性能突破：測角儀精度達0.0001°，確保衍射峰定位精準；配備多層膜單色器與聚焦鏡，有效過濾雜散射線，提升衍...

在材料科學、醫藥研發、地質勘探等領域，物質的晶體結構與物相組成是揭示其性能本質的核心。粉末衍射儀憑借對晶體結構的精準分析能力，成為科研突破與產業升級的關鍵設備。束蘊儀器深耕分析儀器領域多年，自主研發的粉末衍射儀以“高分辨率、高穩定性、高適配性”三大優勢，為全球用戶提供從基礎科研到工業檢測的全場景解決方案，成為行業內的主要產品。高分辨率是粉末衍射儀的核心競爭力，也是束蘊儀器的技術突破點。傳統設備在分析復雜物相時，常因衍射峰重疊導致數據失真，而束蘊粉末衍射儀搭載進口Cu靶X光管與...

在材料科學與工程領域，表界面的微觀世界藏著決定產品性能的關鍵密碼。從半導體芯片的界面結合強度，到鋰電材料的SEI膜穩定性，再到航空涂層的腐蝕防護機制，精準捕捉表界面的元素組成、化學態及深度分布，是科研突破與產業升級的核心前提。然而傳統分析手段常陷入“要么看不清微區細節，要么分不清化學態，要么測不準深度分布”的困境，表界面分析的盲區成為阻礙研發效率的“攔路虎”。束蘊儀器（上海）有限公司深耕表面分析儀器領域多年，憑借對行業痛點的深刻洞察，推出高性能俄歇電子能譜儀（AES），以“化...

布魯克X射線部門王金波碳纖維增強復合材料（CFRP）因其兼具高抗拉強度、高剛性和輕量化特性，作為下一代技術和產業的關鍵材料正受到普遍關注。一、CFRP力學性能的影響因素CFRP的力學性能受多種因素明顯影響：1）碳纖維的取向和密度會直接作用于其性能表現。2）內部空隙和缺陷的存在也會產生重要影響。3）深入了解這些內部結構，是準確評估CFRP強度并優化其設計的關鍵。二、內部結構分析的挑戰與需求分析CFRP內部結構需要能夠分辨出小到微米設置是亞微米的間隙。1）傳統破壞性方法需切割樣品...